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[JB/T 9311-1999] 光學(xué)儀器 產(chǎn)品型號(hào)命名方法[已廢止]

發(fā)布時(shí)間：1999-08-06 實(shí)施時(shí)間：2000-01-01

本標(biāo)準(zhǔn)適用于民用光學(xué)儀器（不包括電子光儀器小類）產(chǎn)品型號(hào)（以下簡稱產(chǎn)品型號(hào)）的命名。

[JB/T 9313-1999] 光學(xué)儀器特種細(xì)牙螺紋[已廢止]

發(fā)布時(shí)間：1999-08-06 實(shí)施時(shí)間：2000-01-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了公稱直徑4mm-260mm光學(xué)儀器特種細(xì)牙螺紋的直徑與螺距系列、基本尺寸、公差與配合、偏..

[JB/T 9328-1999] 分辨力板[修訂]

發(fā)布時(shí)間：1999-08-06 實(shí)施時(shí)間：2000-01-01

本標(biāo)準(zhǔn)適用于評(píng)定望遠(yuǎn)鏡物鏡、體視顯微鏡、投影物鏡及光學(xué)零件等象質(zhì)的分辨力板。

[JB/T 9330-1999] 光學(xué)儀器用可變光闌片基本參數(shù)[已廢止]

發(fā)布時(shí)間：1999-08-06 實(shí)施時(shí)間：2000-01-01

本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器用可變光闌。

[JB/T 9348.1-1999] 光學(xué)儀器防霉、防霧、防銹 試驗(yàn)方法[已廢止]

發(fā)布時(shí)間：1999-08-06 實(shí)施時(shí)間：2000-01-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)儀器及其附件(以下簡稱產(chǎn)品)的防霉、防霧、防銹試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器及其附件..

[JB/T 9348.2-1999] 光學(xué)儀器防霉、防霧、防銹 技術(shù)要求[已廢止]

發(fā)布時(shí)間：1999-08-06 實(shí)施時(shí)間：2000-01-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)儀器及其附件仁以下簡稱產(chǎn)品)在生產(chǎn)、貯運(yùn)過程中的防霉、防霧、防銹(以下筒稱三防)的分..

[JB/T 9399-1999] X射線分析儀器 主參數(shù)系列[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1999-08-06 實(shí)施時(shí)間：2000-01-01

[JBT 9312-1999] 光學(xué)零件包裝[已廢止]

發(fā)布時(shí)間：1999-08-06 實(shí)施時(shí)間：2000-01-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了0.5kg以下的各種透鏡、棱鏡、反射鏡、分劃板等光學(xué)零件的清潔、干燥、封存、襄包、包裝。..

[GB/T 16492-1996] 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境要求 總則、定義、氣候帶及其參數(shù)[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：1996-08-13 實(shí)施時(shí)間：1996-12-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了儀器在預(yù)定使用環(huán)境條件下確定其適用性所要求的試驗(yàn)類型。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器和裝有光學(xué)零件..

[JB/T 8379-1996] 光學(xué)儀器通用技術(shù)條件[已廢止]

發(fā)布時(shí)間：1996-04-16 實(shí)施時(shí)間：1996-10-01

本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器。亦適用于帶有光學(xué)零部件的裝置。

[GB/T 12085.15-1995] 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1995-01-02 實(shí)施時(shí)間：1996-08-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記..

[GB/T 12085.16-1995] 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1995-01-02 實(shí)施時(shí)間：1996-08-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適..

[GB/T 12085.17-1995] 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 污染與太陽輻射綜合試驗(yàn)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1995-01-02 實(shí)施時(shí)間：1996-08-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了污染與太陽輻射綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)儀器..

[YD/T 584-1992] 光測試器[已廢止]

發(fā)布時(shí)間：1992-07-15 實(shí)施時(shí)間：1993-02-01

主題內(nèi)容：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光測試器的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存等。適用范圍：本..

[JB/T 6266-1992] 光學(xué)測角比較儀 基本參數(shù)[修訂]

發(fā)布時(shí)間：1992-05-27 實(shí)施時(shí)間：1993-04-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)測角比較儀基本參數(shù)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于應(yīng)用光學(xué)準(zhǔn)直原理用比較法進(jìn)行角度測量的光學(xué)測角比較儀..

[JB/T 6179-1992] 光學(xué)零件鍍膜 分類、符號(hào)及標(biāo)注[廢止]

發(fā)布時(shí)間：1992-05-15 實(shí)施時(shí)間：1993-01-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鍍在光學(xué)玻璃零件上的各種膜層的分類、符號(hào)及標(biāo)注。

[GB/T 13962-1992] 光學(xué)儀器術(shù)語[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1992-01-02 實(shí)施時(shí)間：1993-06-01

[GB 13323-1991] 光學(xué)制圖[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1991-12-13 實(shí)施時(shí)間：1992-10-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光學(xué)制圖的一般規(guī)定和圖樣要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)系統(tǒng)、光學(xué)部件和光學(xué)零件圖樣的繪制。

[JB/T 5667-1991] 光學(xué)和光學(xué)儀器 大地測量儀器術(shù)語[廢止]

發(fā)布時(shí)間：1991-09-12 實(shí)施時(shí)間：1992-07-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了有關(guān)經(jīng)緯儀、水準(zhǔn)儀、測距儀、平板儀等大地測量儀器的術(shù)語和定義。本標(biāo)準(zhǔn)適用于大地測量儀器標(biāo)..

[JB/T 5588-1991] 光學(xué)零件鍍膜 導(dǎo)電膜[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：1991-07-16 實(shí)施時(shí)間：1992-07-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鍍在光學(xué)玻璃零件上膜層的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則。本標(biāo)準(zhǔn)適用于鍍在光學(xué)玻璃零件上透明..
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