光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分：振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗 現(xiàn)行
Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 10:Combined sinusoidal vibration and dry heat or cold
標準號：GB/T 12085.10-2010
基本信息
標準號：GB/T 12085.10-2010
發(fā)布時間：2011-01-14
實施時間：2011-05-01
首發(fā)日期：1989-12-29
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：曾麗珠、章慧賢、馮瓊輝、葉慧
出版機構(gòu)：中國標準出版社
標準分類： 光學(xué)儀器綜合
ICS分類：光學(xué)設(shè)備
提出單位：中國機械工業(yè)聯(lián)合會
起草單位：寧波永新光學(xué)股份有限公司、上海理工大學(xué)
歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國光學(xué)和光子學(xué)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)
標準簡介
本部分規(guī)定了振動（正弦）與高溫、低溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受振動（正弦）與高溫、低溫的影響時的變化程度。
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