
Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 13:Combined shock bump or free fall and dry heat or cold
標準號:GB/T 12085.13-2010
基本信息
標準號:GB/T 12085.13-2010
發(fā)布時間:2011-01-14
實施時間:2011-05-01
首發(fā)日期:1989-12-29
出版單位:中國標準出版社查看詳情>
起草人:章慧賢、馮瓊輝、曾麗珠、葉慧
出版機構(gòu):中國標準出版社
標準分類: 光學(xué)儀器綜合
ICS分類:光學(xué)設(shè)備
提出單位:中國機械工業(yè)聯(lián)合會
起草單位:上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司
歸口單位:全國光學(xué)和光子學(xué)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)
發(fā)布部門:中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門:全國光學(xué)和光子學(xué)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)
標準簡介
本部分規(guī)定了污染試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本部分中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)物質(zhì)1)(以下稱試劑)同光學(xué)儀器的接觸。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。1) 不包括放射性元素和同位素及危險性化學(xué)物質(zhì)如2,2-二氧二乙硫醚。本部分不適用于作為正常的生產(chǎn)控制。本試驗?zāi)康氖茄芯績x器,尤其是儀器的表面、涂層或合成材料短時間內(nèi)暴露在試劑中的抵抗能力。試驗通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時參考。
標準摘要
GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分: ———第1部分:術(shù)語、試驗范圍; ———第2部分:低溫、高溫、濕熱; ———第3部分:機械作用力; ———第4部分:鹽霧; ———第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗; ———第6部分:砂塵; ———第7部分:滴水、淋雨; ———第8部分:高壓、低壓、浸沒; ———第9部分:太陽輻射; ———第10部分:振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗; ———第11部分:長霉; ———第12部分:污染; ———第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗; ———第14部分:露、霜、冰; ———第15部分:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗; ———第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗。 本部分為GB/T12085的第12部分。 本部分修改采用ISO9022-12:1994《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第12部分:污染》。 本部分與ISO9022-12:1994的主要差異如下: ———刪除國際標準的序言和前言; ———根據(jù)ISO9022-12第1章及我國標準用語習(xí)慣作了重新編寫; ———“國際標準本部分”一詞改為“本部分”。 本部分代替GB/T12085.12—1989《光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 污染》,與GB/T12085.12—1989的主要差異為: ———合并了范圍與試驗?zāi)康? ———增加了試驗程序的總則,規(guī)定了相關(guān)標準的依據(jù); ———增加了環(huán)境試驗的標記名稱,修改了相應(yīng)標準號的編寫; ———調(diào)整了附錄A 的標準編寫結(jié)構(gòu)。 本部分的附錄A 為規(guī)范性附錄。 本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。 本部分由全國光學(xué)和光子學(xué)標準化技術(shù)委員會(SAC/TC103)歸口。 本部分起草單位:上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司。 本部分主要起草人:章慧賢、馮瓊輝、曾麗珠、葉慧。 本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為: ———GB/T12085.12—1989。 |
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