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[YS/T 43-2011] 高純砷[現行]

發布時間:2011-12-20 實施時間:2012-07-01

本標準規定了高純砷的分類和標記、要求、試驗方法、檢驗規則、產品標識、包裝、運輸、貯存等。本標準適用于..

[YS/T 724-2009] 硅粉[廢止]

發布時間:2009-12-04 實施時間:2010-06-01

本標準規定了硅粉的要求、試驗方法、檢驗規則和包裝、標志、運輸、貯存及訂貨單(或合同)內容等。 ..

[GB/T 2881-2008] 工業硅[已作廢]

發布時間:2008-03-31 實施時間:2008-09-01

本標準規定了工業硅的要求、試驗方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸、貯存和訂貨單或合同內容。本標準適用于..

[YS/T 223-2007] 硒[現行]

發布時間:2007-11-14 實施時間:2008-05-01

本標準規定了硒的要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸、貯存。本標準適用于由銅、鉛、鋅等冶煉生產..

[YS/T 651-2007] 二氧化硒[現行]

發布時間:2007-11-14 實施時間:2008-05-01

本標準規定了二氧化硒的要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸、貯存。本標準適用于采用燃燒法所生產..

[GB/T 11070-2006] 還原鍺錠[已作廢]

發布時間:2006-07-18 實施時間:2006-11-01

本標準規定了還原鍺錠的要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸、貯存、訂貨單(或合同)。本標準適用..

[GB/T 11071-2006] 區熔鍺錠[已作廢]

發布時間:2006-07-18 實施時間:2006-11-01

本標準規定了區溶鍺錠的要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸、儲存等。本標準適用于以還原鍺錠及鍺..

[YS 68-2004] 砷[已作廢]

發布時間:2004-06-17 實施時間:2004-11-01

本標準規定了砷的要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸、貯存、質量證明書及安全。 本標準適用于以..

[GB/T 8646-1998] 半導體鍵合鋁-1%硅細絲[已作廢]

發布時間:1998-07-15 實施時間:1999-02-01

本標準規定了半導體鍵合鋁-1%硅細絲的要求、試驗方法、檢驗規則及包裝、標志、運輸、貯存。本標準適用于..

[YS/T 99-1997] 三氧化二砷[廢止]

發布時間:1997-05-15 實施時間:1998-05-01

本標準規定了二氧化二砷的技術條件、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸、儲存本標準適用于濕法、火法工..

[SN/T 0550.1-1996] 出口金屬硅中鐵、鋁、鈣的測定 分光光度法[已廢止]

發布時間:1996-07-10 實施時間:1996-12-01

本標準規定了用磺基水楊酸分光光度法測定金屬硅中鐵量,鉻天青S分光光度法測定金屬硅中鋁量,偶氮腫I分光..

[SN/T 0550.2-1996] 出口金屬硅中鐵、鋁、鈣的測定 容量法[現行]

發布時間:1996-07-10 實施時間:1996-12-01

本標準規定了用EDTA容量法測定鐵、鋁、鈣含量的方法。本標準適用于出口金屬硅中鐵、鋁、鈣含量的測定。..

[YS/T 223-1996] 硒[已作廢]

發布時間:1996-02-02 實施時間:1996-12-01

[GB/T 15713-1995] 鍺單晶片[已作廢]

發布時間:1995-10-17 實施時間:1996-03-01

本標準規定了鍺單晶切割片、研磨片和腐蝕片的產品分類、技術要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸和..

[GB/T 5238-1995] 鍺單晶[已作廢]

發布時間:1995-10-17 實施時間:1996-03-01

本標準規定了鍺單晶的產品分類、技術要求、試驗方法、檢驗規則及標志、包裝、運輸和貯存。本標準適用于制作..

[YS/T 68-1993] 砷[已作廢]

發布時間:1994-04-01 實施時間:1994-04-01

[YS/T 222-1996] 碲錠[已作廢]

發布時間:1994-01-01 實施時間:1993-03-01

[YS/T 224-1994] 鉈[已作廢]

發布時間:1993-03-01 實施時間:1993-03-01

[GB/T 14139-1993] 硅外延片[已作廢]

發布時間:1993-02-06 實施時間:1993-10-01

本標準規定了硅外延片的產品分類、技術要求、試驗方法和檢驗規則及標志、包裝、運輸、貯存。本標準適用于在..

[GB/T 14140.1-1993] 硅片直徑測量方法 光學投影法[已作廢]

發布時間:1993-02-06 實施時間:1993-10-01

本標準規定了用光學投影儀測量硅片直徑的方法。本標準適用于測量圓形硅片的直徑。測量范圍為聲φ40~φ1..

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