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IEC 60749-27 : 2.1現(xiàn)行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM)

出版：International Electrotechnical Committee

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專家解讀視頻

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： IEC 60749-27 : 2.1

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：International Electrotechnical Committee

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Defines a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD).

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

IEC PAS 62180 : 1.0

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

NF EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2013 - Identical

BS EN 60749-27 : 2006 - Identical

EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2012 - Identical

DS EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2012 - Identical

NEN EN IEC 60749-27 : 2007 AMD 1 2012 - Identical

NBR IEC 60749-27 : 2011 - Identical

PN EN 60749-27 : 2008 AMD 1 2013 - Identical

DIN EN 60749-27 : 2013 - Identical