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NEN EN IEC 60749-27 : 2007 AMD 1 2012現(xiàn)行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM)

出版：Netherlands Standards

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 60749-27 : 2007 AMD 1 2012
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Netherlands Standards
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Defines a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD).

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-27 : 2.1 - Identical

IEC 60749-27 : 2.1 - Identical

EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2012 - Identical