PN EN 60749-27 : 2008 AMD 1 2013現行

SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM)

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

標準編號： PN EN 60749-27 : 2008 AMD 1 2013

標準類別：Standard

出版單位：Polish Committee for Standardization

標準頁數：0

等同采用的國際標準

IEC 60749-27 : 2.1 - Identical

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