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DS EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2012現(xiàn)行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 27: ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) SENSITIVITY TESTING - MACHINE MODEL (MM)
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： DS EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2012
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡介
Describes a procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD).
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)
EN 60749-27 : 2006 AMD 1 2012 - Identical
IEC 60749-27 : 2.1 - Identical
IEC 60749-27 : 2.1 - Identical
