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UNE EN 60749:2000被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods

出版：Asociacion Espanola de Normalizacion

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： UNE EN 60749:2000
發(fā)布時(shí)間：2000/11/15 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Asociacion Espanola de Normalizacion
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：100
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Defines test methods to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Additional test methods may be required for non-cavity devices.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes UNE 20699. (09/2003)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

UNE 20699:1992

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749:1999 - Identical

SN EN 60749:1999 - Identical

BS EN 60749:1999 - Identical

DIN EN 60749 (2002-09) - Identical

NF EN 60749:1999 - Identical

NBN EN 60749:1999 - Identical

IEC 60749 Ed. 2.2 - Identical

I.S. EN 60749:1999 - Identical

SS EN 60749:1999 - Identical