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UNE EN 60749-7:2003被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Internal Moisture Content Measurement And The Analysis Of Other Residual Gases

出版：Asociacion Espanola de Normalizacion

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： UNE EN 60749-7:2003
發(fā)布時(shí)間：2003/5/30 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard
出版單位：Asociacion Espanola de Normalizacion
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：10
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Applicable to test and measure the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes UNE EN 60749. (10/2005)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

UNE EN 60749:2000

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

BS EN 60749-7:2002 - Identical

DIN EN 60749-7 (2003-04) - Identical

NBN EN 60749-7:2003 - Identical

NF EN 60749-7:2002 - Identical

I.S. EN 60749-7:2002 - Identical

NBN EN 60749-7:2011 - Identical

IEC 60749-7 Ed. 1.0 - Identical

NF EN 60749-7:2012 - Identical

DIN EN 60749-7 (2012-02) - Identical

I.S. EN 60749-7:2011 - Identical

BS EN 60749-7:2011 - Identical