UNE EN 60749-12:2003現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Vibration, Variable Frequency

出版：Asociacion Espanola de Normalizacion

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： UNE EN 60749-12:2003

發(fā)布時間：2003/5/30 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Asociacion Espanola de Normalizacion

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：8

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Defines a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes UNE EN 60749. (10/2005)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

UNE EN 60749:2000

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-12:2002 - Identical

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