DIN EN 60749-38 (2008-10)現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： DIN EN 60749-38 (2008-10)

發(fā)布時間：2008/10/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：14

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2008 [01/10/2008]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes DIN IEC 60749-38. (10/2008)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

DIN IEC 60749-38 (2005-04)

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-38 Ed. 1.0 - Identical

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