DIN IEC 60749-38 (2005-04)被替代

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 38: Soft error rate testing of electronic components (IEC 47/1796/CD:2004)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標準編號： DIN IEC 60749-38 (2005-04)

發布時間：2005/4/1 0:00:00

標準類別：Draft

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標準頁數：0

替代本標準的新標準

DIN EN 60749-38 (2008-10)

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