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標準編號 標準名稱 發(fā)布部門 發(fā)布日期 狀態(tài)
SJ/T 10737-1996 半導體集成電路 ＥＣＬ電路測試方法的基本原理 1997-01-01 現(xiàn)行
SJ/T 10738-1996 半導體集成電路 運算（電壓）放大器測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10739-1996 半導體集成電路 ＭＯＳ隨機存儲器測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10740-1996 半導體集成電路 雙極型隨機存儲器測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10741-1996 半導體集成電路 ＣＭＯＳ電路測試方法的基本原理 1997-01-01 已作廢
SJ/T 10746-1996 半導體集成電路新產(chǎn)品定型鑒定的程序規(guī)則 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10783-1996 電子器件詳細規(guī)范 半導體集成電路ＣＤ７１７６ＣＰ伴音中頻放大電路（可供認證用） 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10784-1996 電子器件詳細規(guī)范 半導體集成電路ＣＤ７６０９ＣＰ行、場掃描電路（可供認證用） 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10800-1996 半導體集成接口電路讀出放大器測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10801-1996 半導體集成接口電路磁芯存儲器驅(qū)動器測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10802-1996 半導體集成接口電路外圍驅(qū)動器測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10803-1996 半導體集成接口電路線電路測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10804-1996 半導體集成接口電路電平轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 1997-01-01 已作廢
SJ/T 10805-1996 半導體集成接口電路電壓比較器測試方法的基本原理 1997-01-01 已作廢
SJ/T 10806-1996 半導體集成接口電路顯示驅(qū)動器測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10808-1996 電子器件詳細規(guī)范 半導體集成電路ＣＴ１０００型ＴＴＬ四２輸入與非門（可供認證用） 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10815-1996 電子器件詳細規(guī)范 半導體集成電路ＣＴ１０３０型ＴＴＬ８輸入與非門（可供認證用） 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10816-1996 電子器件詳細規(guī)范 半導體集成電路ＣＴ１０４０型ＴＴＬ雙４輸入與非緩沖器（可供認證用） 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10817-1996 電子器件詳細規(guī)范 半導體集成電路ＣＴ１０５４型ＴＴＬ４路２－２－２－２輸入與或非門（可供認證用） 1997-01-01 已廢止
SJ/T 10818-1996 半導體集成非線性電路數(shù)字／模擬轉(zhuǎn)換器和模擬／數(shù)字轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 1997-01-01 已廢止
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