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[SJ/T 10737-1996] 半導(dǎo)體集成電路 ＥＣＬ電路測(cè)試方法的基本原理[現(xiàn)行]

發(fā)布時(shí)間：1996-11-20 實(shí)施時(shí)間：1997-01-01

[SJ/T 10738-1996] 半導(dǎo)體集成電路 運(yùn)算（電壓）放大器測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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[SJ/T 10739-1996] 半導(dǎo)體集成電路 ＭＯＳ隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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[SJ/T 10740-1996] 半導(dǎo)體集成電路 雙極型隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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[SJ/T 10741-1996] 半導(dǎo)體集成電路 ＣＭＯＳ電路測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

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[SJ/T 10746-1996] 半導(dǎo)體集成電路新產(chǎn)品定型鑒定的程序規(guī)則[已廢止]

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[SJ/T 10783-1996] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路ＣＤ７１７６ＣＰ伴音中頻放大電路（可供認(rèn)證用）[已廢止]

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[SJ/T 10784-1996] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路ＣＤ７６０９ＣＰ行、場(chǎng)掃描電路（可供認(rèn)證用）[已廢止]

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[SJ/T 10800-1996] 半導(dǎo)體集成接口電路讀出放大器測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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[SJ/T 10801-1996] 半導(dǎo)體集成接口電路磁芯存儲(chǔ)器驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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[SJ/T 10802-1996] 半導(dǎo)體集成接口電路外圍驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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[SJ/T 10803-1996] 半導(dǎo)體集成接口電路線電路測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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[SJ/T 10804-1996] 半導(dǎo)體集成接口電路電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

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[SJ/T 10805-1996] 半導(dǎo)體集成接口電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

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[SJ/T 10806-1996] 半導(dǎo)體集成接口電路顯示驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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[SJ/T 10808-1996] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路ＣＴ１０００型ＴＴＬ四２輸入與非門（可供認(rèn)證用）[已廢止]

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[SJ/T 10815-1996] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路ＣＴ１０３０型ＴＴＬ８輸入與非門（可供認(rèn)證用）[已廢止]

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[SJ/T 10816-1996] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路ＣＴ１０４０型ＴＴＬ雙４輸入與非緩沖器（可供認(rèn)證用）[已廢止]

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[SJ/T 10817-1996] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路ＣＴ１０５４型ＴＴＬ４路２－２－２－２輸入與或非門（可供認(rèn)證用）[已廢止]

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[SJ/T 10818-1996] 半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字／模擬轉(zhuǎn)換器和模擬／數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理[已廢止]

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