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[GB/T 18310.8-2003] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序第2-8部分：試驗(yàn)碰撞[已作廢]
發(fā)布時(shí)間：2003-11-24
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分的目的是揭示纖維光學(xué)器件在受到重復(fù)性的沖擊時(shí)其機(jī)械性能的薄弱環(huán)節(jié)和/或性能劣化。它模擬在正常工..
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[GB/T 18310.9-2003] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序 第2-9部分：試驗(yàn) 沖擊[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2003-11-24
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分的目的是確定纖維光學(xué)器件在受到非重復(fù)性機(jī)械沖擊時(shí)其結(jié)構(gòu)的薄弱環(huán)節(jié)和/或性能劣化程度。它模擬在正..
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[GB/T 18311.34-2003] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第3-34部分：檢查和測量-隨機(jī)配接連接器的衰減[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2003-11-24
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分旨在規(guī)定測量隨機(jī)配接的光連接器的衰減的統(tǒng)計(jì)分布和平均值所要求的程序，本部分術(shù)語“衰減”也可稱為..
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[GB/T 18311.4-2003] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序第3－4部分：檢查和測量[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2003-11-24
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分規(guī)定了測量光學(xué)器件衰減的各種方法。本部分不適用于密集波分復(fù)用（DWDM）器件。
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[GB/T 18311.5-2003] 纖維光學(xué)器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序第3－5部分[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2003-11-24
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分為GB／T 18311的第5部分，并隸屬于GB／T 18309．1—2001((纖維光學(xué)互連器..
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[GB/T 15651.2-2003] 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-2部分：光電子器件 基本額定值和特性[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2003-01-01
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分等同采用IEC60747-5-2：1997《半導(dǎo)體分立器件和集成電器第5-2部分：光電子器件基..
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[GB/T 15651.3-2003] 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測試方法[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2003-01-01
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分適用于光電子器件的測試方法，用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外。
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[GB/T 18310.10-2003] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序第2－10部分：試驗(yàn)[已作廢]
發(fā)布時(shí)間：2003-01-01
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分為GB／T18310的第10部分，并隸屬于GB／T 18309．1—2001／IEC 6130..
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[GB/T 18311.1-2003] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件-基本試驗(yàn)和測量程序 第3-1部分：檢查和測量-外觀檢查[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2003-01-01
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分等同采用IEC61300-3-1:1995《纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序第3-..
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[GB/T 18311.40-2003] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序第3－40部分：檢查[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2003-01-01
實(shí)施時(shí)間：2004-08-01
本部分為GB／T18311的第40部分，并隸屬于GB／T18309．1—2001《纖維光學(xué)互連器件和..
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[SJ 20786/1-2002] 半導(dǎo)體光電組件CBGS2301微型雙向光電定位器詳細(xì)規(guī)范[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2002-12-12
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
本規(guī)范規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路CBGS2301型光電雙向驅(qū)動(dòng)器（以下簡稱組件）的詳細(xì)要求。本規(guī)范適用于組..
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[GB/T 18310.1-2002] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第2-1部分：試驗(yàn)？振動(dòng)(正弦)[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2002-12-04
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
本部分為GB/T18310的第1部分，目的是評定現(xiàn)場使用期間可能遇到的振動(dòng)在主要頻率范圍和振動(dòng)幅值條..
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[GB/T 18310.12-2002] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第2-12部分: 試驗(yàn)？撞擊[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2002-12-04
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
本部分目的是對纖維光學(xué)器件承受在使用過程可能遇到的撞擊能力的評價(jià)。撞擊可能是由剛性物體引起的局部撞擊..
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[GB/T 18310.19-2002] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第2-19部分: 試驗(yàn)？恒定濕熱[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2002-12-04
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
本部分目的是確定纖維光學(xué)器件耐實(shí)際使用、儲(chǔ)存和/或運(yùn)輸中可能遇到的高溫和高濕環(huán)境的適應(yīng)性
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[GB/T 18310.21-2002] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第2-21部分: 試驗(yàn)-溫度？濕度組合循環(huán)試驗(yàn)[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2002-12-04
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
本部分等同采用IEC 6130-2-21:1995《纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序 第..
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[GB/T 18310.5-2002] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第2-5部分: 試驗(yàn)？扭轉(zhuǎn)/扭絞[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2002-12-04
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
本部分目的是評定在安裝和正常使用中可能遇到的經(jīng)受張力同時(shí)承受扭轉(zhuǎn)負(fù)荷時(shí)，被試器件和光纜的連接能力。
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[GB/T 18310.7-2002] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第2-7部分: 試驗(yàn)？彎矩[已作廢]
發(fā)布時(shí)間：2002-01-02
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
本部分目的是評定在正常使用期間整套光連接器或其他光器件組合的鎖緊裝置能承受彎矩的能力。
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[GB/T 19340.19-2002] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗(yàn)和測量程序 第2-19部分：試驗(yàn) 恒定濕熱[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2002-01-02
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
本部分目的是確定纖維光學(xué)器件耐實(shí)際使用、儲(chǔ)存和/或運(yùn)輸中可能遇到的高溫和高濕環(huán)境的適應(yīng)性。該程序主要..
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[GB/T 18310.18-2001] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第2-18部分:干熱-高溫耐久性[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2001-11-24
實(shí)施時(shí)間：2001-08-01
本標(biāo)準(zhǔn)旨在確定纖維光學(xué)器件承受實(shí)際使用、貯存和(或)運(yùn)輸中可能遇到的持續(xù)高溫(干熱)環(huán)境條件下的適應(yīng)..
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[GB/T 18310.39-2001] 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第2-39部分：試驗(yàn) 對外界磁場敏感性[現(xiàn)行]
發(fā)布時(shí)間：2001-11-24
實(shí)施時(shí)間：2001-08-01
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了當(dāng)外界磁場施加到器件上時(shí)對其光學(xué)性能變化的敏感性進(jìn)行測量的試驗(yàn)方法。
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