
Fibre optic interconnecting devices and passive components—Basic test and measurement procedures—Part 8-8:Tests—Bump
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 18310.8-2003
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 18310.8-2003
發(fā)布時(shí)間:2003-11-24
實(shí)施時(shí)間:2004-08-01
首發(fā)日期:2003-11-24
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:王強(qiáng)、王毅、商海英
作廢日期:2005-10-14
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 光電子器件組合
ICS分類:光纖連接器
提出單位:中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第八研究所
歸口單位:中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所(CESI)
發(fā)布部門(mén):中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
主管部門(mén):信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
本部分的目的是揭示纖維光學(xué)器件在受到重復(fù)性的沖擊時(shí)其機(jī)械性能的薄弱環(huán)節(jié)和/或性能劣化。它模擬在正常工作期間器件可能遭受到的重復(fù)性的沖擊。
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