DS EN 60749-3:2017現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Examination

出版：Danish Standards

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： DS EN 60749-3:2017

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Danish Standards

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：17

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2017 [20/06/2017]2002 COR 1 2003 [12/02/2004]2002 [08/01/2003]

標(biāo)準(zhǔn)備注

2002 Edition along with its corrigendum is still active and will be withdrawn on 07/04/2020. (07/2017)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

DS EN 60749-3:2002

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-3:2017 - Identical

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