DS EN 60749-3:2002被替代
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Method - Part 3: External Visual Examination
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： DS EN 60749-3:2002
發布時間：2003/1/8 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：16
標準簡介
Aims at verifying the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document.
替代本標準的新標準
等同采用的國際標準
EN 60749-3:2017 - Identical
