NEN EN IEC 60749-7:2011現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 7: Internal Moisture Content Measurement And The Analysis Of Other Residual Gases
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-7:2011
發布時間：2011/9/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：14
標準簡介
Defines the testing and measurement of water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device.
標準備注
Supersedes NEN EN IEC 60749. (09/2011)
本標準替代的舊標準
