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BS EN 60749-38:2008現行

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory

出版：British Standards Institution

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基本信息
標準編號： BS EN 60749-38:2008
發布時間：2008/6/30 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：British Standards Institution
標準頁數：16
標準備注

? British Standards Institution 2013

等同采用的國際標準

EN 60749-38:2008 - Identical

IEC 60749-38 Ed. 1.0 - Identical