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NEN EN IEC 60749-38:2008現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 38: Soft Error Test Method For Semiconductor Devices With Memory

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-38:2008
發布時間：2008/6/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：26
標準簡介

2008 [01/06/2008]

等同采用的國際標準

EN 60749-38:2008 - Identical

IEC 60749-38 Ed. 1.0 - Identical