IEC 62373 : 1.0現(xiàn)行

BIAS-TEMPERATURE STABILITY TEST FOR METAL-OXIDE, SEMICONDUCTOR, FIELD-EFFECT TRANSISTORS (MOSFET)

出版：International Electrotechnical Committee

獲取原文如何獲取原文？問客服獲取原文，即可享受本標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)變更提醒服務(wù)！

專家解讀視頻

基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： IEC 62373 : 1.0

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：International Electrotechnical Committee

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

I.S. EN 62373:2006 - Identical

国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区