EN 62373 : 2006現行

BIAS-TEMPERATURE STABILITY TEST FOR METAL-OXIDE, SEMICONDUCTOR, FIELD-EFFECT TRANSISTORS (MOSFET)

出版：European Committee for Standards - Electrical

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基本信息

標準編號： EN 62373 : 2006

標準類別：Standard

出版單位：European Committee for Standards - Electrical

標準頁數：0

標準簡介

Defines a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

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