国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区

歡迎來到寰標(biāo)網(wǎng)！ 客服QQ：772084082 加入會員
當(dāng)前位置： 首頁 > 標(biāo)準(zhǔn)詳情頁

NEN EN IEC 60749-20:2003被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic-encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

獲取原文 如何獲取原文？問客服 獲取原文，即可享受本標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)變更提醒服務(wù)！

專家解讀視頻

基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： NEN EN IEC 60749-20:2003
發(fā)布時間：2003/8/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：49
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Defines a test method for assessing the resistance to soldering heat of plastic-encapsulated surface mount devices (SMDs). Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits).

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60749-20:2009

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-20 Ed. 1.0 - Identical