NEN EN IEC 60749-20:2009現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic Encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-20:2009
發布時間：2009/12/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：30
標準簡介
2009 [01/12/2009]2003 [01/08/2003]
本標準替代的舊標準
等同采用的國際標準
EN 60749-20:2009 - Identical
