NEN EN IEC 60749-3:2017現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Examination
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN EN IEC 60749-3:2017
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：11
標準簡介
2017 [01/07/2017]2002 [01/09/2002]
標準備注
Supersedes NEN EN IEC 60749. (09/2011)
等同采用的國際標準
EN 60749-3:2017 - Identical
EN 60749-3 : 2017 - Identical
IEC 60749-3 : 2.0 - Identical
IEC 60749-3 : 2.0 - Identical
