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OVE/ONORM EN 60749-20:2004被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic-encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： OVE/ONORM EN 60749-20:2004
發(fā)布時間：2004/1/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：25
標(biāo)準(zhǔn)簡介

2004 [01/01/2004]

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

OVE/ONORM EN 60749-20:2010

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-20 Ed. 1.0 - Identical

EN 60749-20:2009 - Identical