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OVE/ONORM EN 60749-20:2010現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 20: Resistance Of Plastic Encapsulated Smds To The Combined Effect Of Moisture And Soldering Heat

出版：Osterreichisches Normungsinstitut

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： OVE/ONORM EN 60749-20:2010
發(fā)布時(shí)間：2010/5/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard
出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：28
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2010 [01/05/2010]2004 [01/01/2004]

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OVE/ONORM EN 60749-20:2004

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