NEN NPR IEC/TS 62396-2:2008被替代
Process Management For Avionics - Atmospheric Radiation Effects - Part 2: Guidelines For Single Event Effects Testing For Avionics Systems
出版：Nederlands Normalisatie Instituut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： NEN NPR IEC/TS 62396-2:2008
發布時間：2008/9/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut
標準頁數：27
標準簡介
Gives guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons.
標準備注
Supersedes NEN NPR IEC/PAS 62396-2. (09/2008)
本標準替代的舊標準
替代本標準的新標準
等同采用的國際標準
IEC/TS 62396-2 Ed. 1.0 - Identical
