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NEN EN 100012:1995現(xiàn)行

Basic Specification - X-ray Inspection Of Electronic Components

出版:Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號: NEN EN 100012:1995
發(fā)布時(shí)間:1995/11/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別:Standard
出版單位:Nederlands Normalisatie Instituut
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù):8
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Describes the equipment and procedures to be used for the inspection of electronic components by means of radiography and radioscopy.

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60147-2B - Identical

IEC 60147-2J - Identical

IEC 60147-2K - Identical

IEC 60147-2F - Identical

IEC 60147-2G - Identical

IEC 60147-2C - Identical

IEC 60147-2M - Identical

IEC 60147-2 Ed. 1.0 - Identical

SS EN 100012 Ed. 1 (1999) - Identical

SN EN 100012:1995 - Identical

BS EN 100012:1996 - Identical

DIN EN 100012 (1995-09) - Identical

I.S. EN 100012:1995 - Identical