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BS EN 100012:1996現(xiàn)行

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Basic specification. X-ray inspection of electronic components

出版：British Standards Institution

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： BS EN 100012:1996
發(fā)布時(shí)間：1996/4/15 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：British Standards Institution
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：12
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

This specification describes the equipment and procedures to be used for the inspection of electronic components by means of radiography and radioscopy

標(biāo)準(zhǔn)備注

? British Standards Institution 2013

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

BS CECC 00012:1985

93/205734 DC

BS CECC00012(1985) : 1985

93/205734 DC : MAY 93

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

I.S. EN 100012:1995 - Identical

DIN EN 100012 (1995-09) - Identical

NEN EN 100012:1995 - Identical

SN EN 100012:1995 - Identical

DIN EN 100012 : 1995 - Identical

I.S. EN 100012:1995 - Identical

SN EN 100012 : 1995 - Identical

EN 100012 : 1995 - Identical

NEN EN 100012 : 1995 - Identical

DIN EN 100012 : 1995 - Identical

I.S. EN 100012:1995 - Identical

SS EN 100012 Ed. 1 (1999) - Identical