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[GB 7005-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1000型TTL四2輸入與非門(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7006-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1002型TTL四2輸入或或非門(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7007-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1004型TTL六反相器(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7008-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1008型TTL四2輸入與門(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7009-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1010型TTL三3輸入與非門(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7010-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1020型TTL雙4輸入與非門(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7011-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1027型TTL三3輸入或非門(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7012-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1030型TTL8輸入與非門(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7013-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1040型TTL雙4輸入與非緩沖器(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7014-1986] 電子器件詳細(xì)規(guī)范 半導(dǎo)體集成電路CT1054型TTL4路2-2-2-2輸入與或非門(可供認(rèn)證用)[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 7015-1986] 半導(dǎo)體集成非線性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-08-01 實(shí)施時(shí)間：1987-08-01

[GB 3442-1986] 半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算(電壓)放大器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-07-01 實(shí)施時(shí)間：1987-07-01

[GB 6793-1986] 半導(dǎo)體集成接口電路讀出放大器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-07-01 實(shí)施時(shí)間：1987-07-01

[GB 6794-1986] 半導(dǎo)體集成接口電路磁芯存儲(chǔ)器驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-07-01 實(shí)施時(shí)間：1987-07-01

[GB 6795-1986] 半導(dǎo)體集成接口電路外圍驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-07-01 實(shí)施時(shí)間：1987-07-01

[GB 6796-1986] 半導(dǎo)體集成接口電路線電路測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-07-01 實(shí)施時(shí)間：1987-07-01

[GB 6797-1986] 半導(dǎo)體集成接口電路電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-07-01 實(shí)施時(shí)間：1987-07-01

[GB 6798-1986] 半導(dǎo)體集成接口電路電壓比較器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-07-01 實(shí)施時(shí)間：1987-07-01

[GB 6799-1986] 半導(dǎo)體集成接口電路顯示驅(qū)動(dòng)器測(cè)試方法的基本原理[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-07-01 實(shí)施時(shí)間：1987-07-01

[GB 7504-1987] 半導(dǎo)體集成微型計(jì)算機(jī)電路系列和品種 2900系列的品種[已作廢]

發(fā)布時(shí)間：1987-03-25 實(shí)施時(shí)間：1987-11-01

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成位片式微型計(jì)算機(jī)電路2900系列的品種（以下簡稱器件），包括每個(gè)品種的邏輯功能..
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