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半導(dǎo)體集成電路電壓比較器測試方法的基本原理 已作廢

Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for voltage comparators

標(biāo)準(zhǔn)號：SJ/T 10805-2000

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：SJ/T 10805-2000
發(fā)布時間：2000-12-28
實施時間：2001-03-01
首發(fā)日期：
出版單位：電子工業(yè)出版社查看詳情>
起草人：李燕榮、崔忠勤
作廢日期：2018-04-01
出版機構(gòu)：電子工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 微電路綜合
ICS分類：電子管
提出單位：中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布部門：中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本規(guī)范規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓比較器（以下簡稱器件）電特性測試方法的基本原理。本規(guī)范適用于半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性的測試。

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