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計數檢查單水平和多水平連續抽樣檢查程序及表
計數檢查單水平和多水平連續抽樣檢查程序及表 現行
Single-and multi-level continuous sampling procedures and tables for inspection by attributes
標準號：SJ 20712-1998
基本信息
標準號：SJ 20712-1998
發布時間：1998-03-18
實施時間：1998-05-01
首發日期：
出版單位：電子工業出版社查看詳情>
起草人：周仁
出版機構：電子工業出版社
標準分類：
>>>>L0110
起草單位：中國電子技術標準化研究所
歸口單位：中國電子技術標準化研究所
發布部門：中華人民共和國電子工業部
標準簡介
本標準規定了CSP-1型、CSP-F型、CSP-2型、CSP-T型、及CSP-V型、五種不同類型的計數檢查連續抽樣檢查方案，并為它們分別提供了相應的操作程序及與之有關的參數表。另外，本標準還提供了除CSP-F型之外的其它四種不同類型連續抽樣檢查方案之功能曲線的繪制方法，以及對這些曲線的說明和使用方法。本標準適用于對流動單位產品的檢查。
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