
Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon NPN ultra-high frequency low-noise difference match transistor of Type 3DG210
標(biāo)準(zhǔn)號:SJ 20062-1992
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號:SJ 20062-1992
發(fā)布時間:1992-11-19
實(shí)施時間:1993-05-01
首發(fā)日期:
出版單位:電子工業(yè)出版社查看詳情>
起草人:王長福、黃世杰、李紅
出版機(jī)構(gòu):電子工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 技術(shù)管理
提出單位:中國電子工業(yè)總公司科技質(zhì)量局
起草單位:中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所和國營八七一廠
歸口單位:中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布部門:中國電子工業(yè)總公司
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本規(guī)范規(guī)定了3DG210型NPN硅超高頻低噪聲差對晶體管(以下簡稱器件)的詳細(xì)要求,該種器件按GJB33《半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》的規(guī)定,提供產(chǎn)品保證的三個等級(GP、GT和GCT級).
推薦檢測機(jī)構(gòu)
申請入駐
暫未檢測到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請入駐~
推薦認(rèn)證機(jī)構(gòu)
申請入駐
暫未檢測到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請入駐~
推薦培訓(xùn)機(jī)構(gòu)
申請入駐
暫未檢測到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請入駐~