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半導體集成電路 ＣＭＯＳ電路測試方法的基本原理
半導體集成電路 ＣＭＯＳ電路測試方法的基本原理 已廢止
Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for CMOS circuits
標準號：SJ/T 10741-2000
基本信息
標準號：SJ/T 10741-2000
發布時間：2000-12-28
實施時間：2001-03-01
首發日期：
出版單位：電子工業出版社查看詳情>
起草人：李燕榮、孫人杰
作廢日期：2011-08-15
出版機構：電子工業出版社
標準分類： 微電路綜合
ICS分類：集成電路、微電子學
提出單位：中華人民共和國信息產業部
起草單位：中國電子技術標準化研究所
歸口單位：中國電子技術標準化研究所
發布部門：中華人民共和國信息產業部
標準簡介
本規范規定了半導體集成電路CMOS電路（以下簡稱器件）電特性測試方法的基本原理。本規范適用于半導體集成電路集成電路CMOS電路電特性的測試。
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