銀和銀合金鍍覆層厚度測量方法Ｘ射線熒光光譜法現行

Measurement methods for electrodeposited silver and silver alloy coating thickness-Method by the X-ray fluorescent spectromentry

標準號：SJ 20147.1-1992

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基本信息

標準號：SJ 20147.1-1992

發布時間：1992-11-19

實施時間：1993-05-01

首發日期：

出版單位：電子工業出版社查看詳情>

起草人：全慶霄、趙長春、順興生等

出版機構：電子工業出版社

標準分類：技術管理

提出單位：中國電子工業總公司科技質量局

起草單位：中國華晶電子集團公司等單位

歸口單位：中國電子技術標準化研究所

發布部門：中國電子工業總公司

標準簡介

本標準規定了用x射線熒光光譜法測量銀和銀合金鍍覆層厚度的方法。它是’一種非接觸式的無損測量方法。本標準適用于銀和銀合金鍍覆層厚度的測量，也適用于常用金屬鍍覆層厚度的測量。該方法還可同時測量出表面鍍覆層和中間層的厚度。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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