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石英晶體元件參數的測量 第4部分：頻率達30MHz石英晶體元件負載諧振頻率fL和負載諧振電阻RL的測量方法及其他導出參數的計算 現行

Measurement of quartz crystal unit parameters Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fl, load resonance resistance Rl and the calculation of other derived v

標準號：SJ/T 11210-1999

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基本信息

標準號：SJ/T 11210-1999
發布時間：1999-08-26
實施時間：1999-12-01
首發日期：
出版單位：電子工業出版社查看詳情>
起草人：章怡、宋佩鈺、鄧鶴松、邊一林
出版機構：電子工業出版社
標準分類： 石英晶體、壓電元件
起草單位：國營北京晨星無線電器材廠
歸口單位：電子工業部標準化研究所
發布部門：中華人民共和國信息產業部

標準簡介

本標準規定了頗率達30MHz石英晶體元件負載諧振頻率fL和負載諧振電阻RL的簡單測量方法。從這兩項測量可計算出由IEC 122一1修改1中定義的負載諧振頗率偏置，頻率牽引范圍△幾:、和牽引靈敏度So

替代情況

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引用標準

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