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碲鎘汞晶體X值的X-射線熒光法測(cè)定方法 現(xiàn)行

Method of determination X value for mercury cadmium telluride for use in X-ray fluorimetry

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ 20719-1998

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ 20719-1998
發(fā)布時(shí)間：1998-03-18
實(shí)施時(shí)間：1998-05-01
首發(fā)日期：
出版單位：電子工業(yè)出版社查看詳情>
起草人：李兆瑞、劉筠
出版機(jī)構(gòu)：電子工業(yè)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類：  >>>>L5971
起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本規(guī)范規(guī)定了用X-射線熒光法測(cè)定碲鎘汞晶片的組分X值。本規(guī)范適用于X值在0.100~0.350mol范圍內(nèi)的碲鎘汞晶片組分X值定量測(cè)定。

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