BS EN 62416:2010現(xiàn)行

Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors

出版：British Standards Institution

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： BS EN 62416:2010

發(fā)布時(shí)間：2010/7/31 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：British Standards Institution

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：14

標(biāo)準(zhǔn)備注

? British Standards Institution 2013

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

08/30177349 DC

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62416 Ed. 1.0 - Identical

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