IEC 62416 Ed. 1.0現行
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
出版：International Electrotechnical Committee
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： IEC 62416 Ed. 1.0
發布時間：2010/4/26 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：International Electrotechnical Committee
標準頁數：20
標準簡介
IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
等同采用的國際標準
BS EN 62416:2010 - Identical
