IEC 60749-5 Ed. 2.0現行
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
出版：International Electrotechnical Committee
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： IEC 60749-5 Ed. 2.0
發布時間：2017/4/10 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：International Electrotechnical Committee
標準頁數：14
標準簡介
Gives a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
本標準替代的舊標準
