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IEC 60749-5 Ed. 1.0被替代

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： IEC 60749-5 Ed. 1.0
發(fā)布時間：2003/1/17 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：International Electrotechnical Committee
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：13
標(biāo)準(zhǔn)簡介

Provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749 Ed. 2.2

IEC/PAS 62161 Ed. 1.0

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60749-5 Ed. 2.0

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

PN EN 60749-5:2005 - Identical

NF EN 60749-5:2003 - Identical

DIN EN 60749-5 (2003-09) - Identical

BS EN 60749-5:2003 - Identical

I.S. EN 60749-5:2003 - Identical

CEI EN 60749-5 Ed. 1 (2005) - Identical

SN EN 60749-5:2003 - Identical

SS EN 60749-5 Ed. 1 (2003) - Identical

UNE EN 60749-5:2003 - Identical

NEN EN IEC 60749-5:2003 - Identical

OVE/ONORM EN 60749-5:2003 - Identical