EIA JESD 372:1970 (R2009)現行
The Measurement Of Small-Signal Vhf-Uhf Transistor Admittance Parameters
出版：JEDEC Solid State Technology Association
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： EIA JESD 372:1970 (R2009)
發布時間：2009/3/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：JEDEC Solid State Technology Association
標準頁數：18
標準簡介
Describes the method to be used for the measurement of small-signal VHF-UHF transistor admittance parameters, in preparing data sheets for JEDEC registration of low power transistors.
標準備注
Renamed from EIA 372. (07/2010)
本標準替代的舊標準
