EIA 372:1970 (R1999)被替代

The Measurement Of Small-signal Vhf-uhf Transistor Admittance Parameters

出版：JEDEC Solid State Technology Association

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基本信息

標準編號： EIA 372:1970 (R1999)

標準類別：Standard

出版單位：JEDEC Solid State Technology Association

標準頁數：0

標準簡介

Describes the method to be used for the measurement of small-signal VHF-UHF transistor admittance parameters, in preparing data sheets for JEDEC registration of low power transistors.

替代本標準的新標準

EIA JESD 372:1970 (R2009)

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EIA 372:1970 (R1999)被替代

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