ASTM F1192-11(2018)現(xiàn)行

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： ASTM F1192-11(2018)

發(fā)布時(shí)間：2018/3/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：American Society for Testing and Materials

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：11

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ASTM F1192-11

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