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ASTM F1192-11被替代

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

標準編號： ASTM F1192-11

發布時間：2011/10/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：American Society for Testing and Materials

標準頁數：11

本標準替代的舊標準

ASTM F1192-00(2006)

替代本標準的新標準

ASTM F1192-11(2018)

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