EIA JESD 311:1981 (R2009)現行
Measurement Of Transistor Noise Figure At Mf, Hf, And Vhf
出版：JEDEC Solid State Technology Association
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： EIA JESD 311:1981 (R2009)
發布時間：2009/3/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：JEDEC Solid State Technology Association
標準頁數：26
標準簡介
Specifies a test method for measurement of transistor noise figure and effective input noise temperature at MF, HF, and VHF. Also, adds the necessary information to make 'effective input noise temperature measurements'.
標準備注
Renamed from EIA 311. (07/2010)
本標準替代的舊標準
