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DIN EN 62047-17 (2015-12)現(xiàn)行
Semiconductor Devices - Micro-electromechanical Devices - Part 17: Bulge Test Method For Measuring Mechanical Properties Of Thin Films (iec 62047-17:2015)
出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號： DIN EN 62047-17 (2015-12)
發(fā)布時間：2015/12/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：28
標(biāo)準(zhǔn)簡介
2015 [01/12/2015]DRAFT 2011 [01/06/2011]
本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)
等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)
EN 62047-17:2015 - Identical
